產(chǎn)品：布魯克D8達芬奇X射線衍射儀
型號：D8 Advance
產(chǎn)地：德國
布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀,采用創(chuàng)造性的達芬奇設(shè)計,通過TWIN-TWIN光路設(shè)計,成功實現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換,而無需對光。通過革命性的TWIST TUBE技術(shù),使用戶可以在1分鐘內(nèi)完成從線光源應(yīng)用(常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到點光源應(yīng)用(織構(gòu)、應(yīng)力、微區(qū))的切換,讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史!
高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內(nèi)的每一個衍射峰(注意不是一個衍射峰)的測量峰位和標(biāo)準(zhǔn)峰位的誤差不超過0.01度,布魯克AXS公司提供保證!
*的林克斯陣列探測器可以提高強度150倍,不僅答復(fù)提高設(shè)備的使用效率, 而且大幅提高了設(shè)備的探測靈敏度。
技術(shù)指標(biāo):
Theta/theta 立式測角儀
2Theta角度范圍:-110～168°
角度精度:0.0001度
Cr/Co/Cu靶,標(biāo)準(zhǔn)尺寸光管
探測器:林克斯陣列探測器、林克斯XE陣列探測器
儀器尺寸:1868x1300x1135mm
重量:770kg
主要應(yīng)用
1、物相定性分析
2、結(jié)晶度及非晶相含量分析
3、結(jié)構(gòu)精修及解析
4、物相定量分析
5、點陣參數(shù)精確測量
6、無標(biāo)樣定量分析
7、微觀應(yīng)變分析
8、晶粒尺寸分析
9、原位分析
10、殘余應(yīng)力
11、低角度介孔材料測量
12、織構(gòu)及ODF分析
13、薄膜掠入射
14、薄膜反射率測量
15、小角散射
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